Resumen:
El análisis del difractograma de rayos X proporciona información tanto cualitativa como cuantitativa de la muestra analizada. Lo anterior supone un conocimiento amplio tanto del fenómeno físico como de las características de la técnica, que permita interpretar los resultados de forma amplia. Para el análisis cuantitativo del difractograma, se utilizan métodos de refinamiento, siendo uno de los más usados el método Rietveld, técnica que tiene la capacidad de determinar parámetros estructurales de la muestra, a partir de la construcción de un patrón teórico que se ajusta al patrón de difracción experimental.
Con este documento se pretende entregar a la comunidad universitaria un recurso bibliográfico de utilidad tanto para estudiantes como para los investigadores de la línea de materiales. Para ello, se ha estructurado con los pormenores, tanto del fenómeno de la difracción de rayos X, como de la instrumentación (difractómetros), de los difractogramas y del método de refinamiento Rietveld.
El primer capítulo se enfoca en los detalles de la estructura cristalina que hacen posible el uso de la técnica. En el segundo y tercer capítulo se describe el fenómeno de difracción (capítulo dos) y específicamente, difracción de rayos X (capítulo tres). La ingeniería envuelta en el difractómetro de rayos X, así como una revisión de su evolución a partir del primer diseño, se consignó en el cuarto capítulo. El quinto capítulo tiene los pormenores del patrón de difracción, siendo que el proceso de refinamiento, más exactamente el método Rietveld, se encuentra en el sexto capítulo. Finalmente se consignaron algunas conclusiones a las que se llegó después del estudio realizado.
