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dc.contributor.author | Álvarez Solarte, Julián Libardo | |
dc.date.accessioned | 2023-05-11T13:42:09Z | |
dc.date.available | 2023-05-11T13:42:09Z | |
dc.date.issued | 2014 | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.unicauca.edu.co:8080/xmlui/handle/123456789/7103 | |
dc.description.abstract | En este documento se consignó la información básica sobre la física e instrumentación involucrada en la microscopía electrónica de transmisión que se considera necesaria para que el lector se familiarice con los conceptos, con el fin de brindar apoyo bibliográfico a las actividades de operación, calibración y mantenimiento del (MET) JEOL. JEM 1200-EX de la Unidad de Microscopia Electrónica de la Universidad del Cauca, además de proponer nuevos usos para ampliar el campo de acción del instrumento mencionado teniendo en cuenta sus capacidades. Durante el desarrollo de la pasantía en la Unidad de Microscopia Electrónica (UME) de la Universidad del Cauca se presentaron inconvenientes con el funcionamiento del MET que permitieron participar de forma directa en el trabajo de manipulación, corrección de daños, mantenimiento y operación, bajo la asesoría y acompañamiento de expertos en estos aspectos además se consultaron los manuales de funcionamiento y mantenimiento del MET. La información aquí recopilada se basa en la experiencia adquirida y en la información consultada en los registros escritos de los procedimientos de manutención a los que el MET ha sido sometido desde su adquisición hasta la fecha. | en_US |
dc.language.iso | es | en_US |
dc.publisher | Universidad del Cauca | en_US |
dc.subject | Microscopía | en_US |
dc.subject | Óptica electrónica | en_US |
dc.subject | Jeol JEM 1200-EX | en_US |
dc.subject | Mantenimiento | en_US |
dc.subject | Microscopios electrónicos | en_US |
dc.title | Física e ingeniería en la microscopía electrónica de transmisión aplicada al MET “JEOL JEM 1200-EX” | en_US |
dc.type | Trabajos de grado | en_US |